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测试针，用于测试PCBA一种探针。

高性能弹簧表面镀金，平均使用寿命为3万-10万倍。
目前国外知名厂家有:ECT，INGUN，QA,IDI.Semiprobe探针材料：W，ReW,A+1.目前主要使用的材料是W，ReW,弹性一般，易偏移，粘金屑，需多次清洗，磨损针长，使用寿命一般。
2.A+材料为免清针，弹性好，试验时不易偏移，不粘金屑，不干净，使用寿命长。探针分类，探针可分为：
A.光电路板测试探头：未安装元件前的电路板测试，仅开路.短路检测探针，国内大部分探针产品可替代进口产品；
B.在线测试探针：PCB安装电路板组件后的探测探头；高端产品的核心技术仍掌握在外国公司手中。部分国内探针产品已成功开发，可替代进口探针产品；
C.微电子测试探头：晶圆测试或芯片IC核心技术仍在国外公司手中，国内厂商积极参与研发，但只有少数成功生产。

主要类型的探针：
1.悬臂探针和垂直探针。
2.悬臂探针：劈刀型（BladeType）
3.环氧树脂型（EpoxyType）
4.垂直探针：垂直探针：垂直探针：垂直探针（VerticalType）
5.ICT探针（ICTseriesProbes)
一般直径为2.54mm-1.27mm有100个行业标准mil,75mil,50mil,直径更特殊，只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试。ICT测试和FCT测试。它也是目前应用广泛的探针。
2.界面探针(InterfaceProbes)非标准探针通常为少数制造大型测试机的客户定制，如泰瑞达（Teradyne)和安捷伦（Agilent)用于测试机器与测试夹之间的接触点和表面。
3.微型探针（MicroSeriesProbes)两个试验点之间的中心间距一般为0.25mm至0.76mm．
4.开关探针（SwitchProbes)单独的探针有两个电流。
5.高频探针（CoaxialProbes)带屏蔽圈的10个高频信号可以测试GHz以内的和500MHz没有屏蔽圈。
6.旋转探针（RotatorProbes)弹性一般不高，因为穿透性强，一般用于OSP处理过的PCBA测试．
7.高电流探针（HighCurrentProbes)探针直径在2.54mm-4.75mm之间。最大测试电流可达39amps.
半导体探针(SemiconductorProbes)直径一般在0.50mm-1.27mm带宽大于10GHz,50Ωcharacteristic
9.电池接触探针(BatteryandConnectorContacts)除上述类型外，一般用于优化接触效果，稳定性好，使用寿命长。

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